Naturwissenschaftliche Fakultät I
Festkolloquium zum Abschied

Nach den Grußworten von Karl-Dieter Grüske, Rektor der Universität Erlangen-Nürnberg und Prof. Dr. Jochen Fricke, Zentrum für Angewandte Energieforschung Bayern e.V. (ZAE), referiert Dr. Noble M. Johnson, Palo Alto Research Center, USA, über das Thema „Electronic Defects in Semiconductors“ und Dr. Wolfgang Cabanski, AIM Heilbronn, über Thema „Infrarot-Detektoren: Technologien und Ausblick“. Zum Abschluss des Festkolloqiums blickt Dr. Gerhard Pensl, Lehrstuhl für Angewandete Physik, zurück. Im Anschluss sind Ehemalige, Kollegen und Freunde des Instituts zu einem gemütlichen Beisammensein eingeladen.

Max Schulz, geboren 1939 in Nürnberg, studierte an der Technischen Universität Braunschweig Physik und Elektrotechnik, wo er 1966 im Fach Physik promoviert wurde. Ab 1967 war er Research Fellow an der University of Essex in England, ab 1969 wissenschaftlicher Mitarbeiter und Abteilungsleiter am Fraunhofer-Institut in Freiburg. 1972 wurde er an der Universität Freiburg habilitiert. In den Jahren 1974 und 1977 war er zu Gastaufenthalten in Murray Hill und Palo Alto (USA). 1978 wurde er auf den Lehrstuhl für Angewandte Physik an der Universität Erlangen-Nürnberg berufen. Zusätzlich ist er seit 1994 Vorstand und wissenschaftlicher Leiter der Abteilung 3 „Thermosensorik und Photovoltaik“ am ZAE Bayern in Erlangen. Von 1982 bis 1983 war er zu einem Gastaufenthalt an der Stanford University (USA) und von 1988 bis 1989 in Pasadena, USA, um an der Kamera-Entwicklung für das Hubble Teleskop bei der NASA mitzuarbeiten.

Von 1995 bis 1997 war er Dekan der Naturwissenschaftlichen Fakultät I, von 2000 bis 2004 Prorektor der Universität Erlangen-Nürnberg. Zu seinen Leistungen als Prorektor zählte unter anderem die Idee zur Einrichtung der Max-Planck-Forschungsgruppe für Optik, Information und Photonik an der Universität Erlangen-Nürnberg. In seiner Funktion als Vorsitzender der Ständigen Kommission für Forschung und wissenschaftlichen Nachwuchs setzte er sich besonders für die Einrichtung des Campus für wissenschaftliche Weiterbildung (CWW) ein.

Zu den Arbeitsgebieten von Prof. Schulz gehört die Analyse von Defekten in Halbleitern und an Grenzflächen, einzelne Elektronen in Grenzflächen, Ultradünne Silizidschichten, Photovoltaik mit Dünnschicht-Silizium, Kameraentwicklung und Anwendung für die Wärmebildaufnahme. Prof. Schulz ist Verfasser von 200 wissenschaftlichen Texten in Fachzeitschriften und von 21 zusammenfassenden Übersichtsartikeln zu Halbleiterthemen. Als Herausgeber verantwortete er unter anderem drei Bände der Landolt-Börnstein Daten-Handbücher „Halbleiter“, bei vierzehn weiteren war er Co-Herausgeber.

Weitere Informationen

Prof. Dr. Max Schulz
Tel.: 09131/28421
max.schulz@physik.uni-erlangen.de

Mediendienst FAU-Aktuell Nr.3726 vom 12.07.2004