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Experte aus Jülich zu Gast in Erlangen

Werkstoffwissenschaftliches Kolloquium zur Elektronenmikroskopie

Über die neuesten Entwicklungen der Elektronenmikroskopie und die Materialuntersuchungen in atomaren Dimensionen spricht Prof. Dr. Knut Urban vom Forschungszentrum Jülich am Dienstag, 3. Juli 2007, im werkstoffwissenschaftlichen Kolloquium der Universität Erlangen-Nürnberg. Der Vortrag ist öffentlich und beginnt um 17.00 Uhr im Seminarraum 1.84, Martensstrasse 7, Erlangen. Prof. Urban ist als hervorragender Redner bekannt. Als bislang einziger Deutscher wurde er mit dem Von Hippel Award der Materials Research Society ausgezeichnet. Dies ist die höchste Auszeichnung der größten materialwissenschaftlichen Fachgesellschaft der Welt.

Für optische Mikroskope ist die Korrektur von Linsenfehlern wie beispielsweise der sphärischen Aberration durch die Kombination von Sammel- und Zerstreuungslinsen seit langem Stand der Technik. Im Bereich der Elektronenmikroskopie gelang es bis vor Kurzem nicht, die gravierenden Fehler der elektromagnetischen Linsen zu beseitigen, was die Auflösung der Mikroskope begrenzt hat. Auf der Grundlage von komplizierten Multipolsystemen für elektronenoptische Linsen entwickelte die Arbeitsgruppe von Prof. Urban am Forschungszentrum Jülich in den letzten Jahren die ersten Korrektoren. Diese ermöglichen jetzt Auflösungen bis in den subatomaren Bereich.

Weitere Inforamtionen für die Medien:

Prof. Dr. Mathias Göken
Tel.: 09131/85-27501
goeken@ww.uni-erlangen.de

 

uni | mediendienst | aktuell Nr. 127/2007 vom 29.06.2007


zentrale universitätsverwaltung, pressestelle --- zuletzt aktualisiert am 14.01.2008

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